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光學應用測量-FFP 測量裝置介紹
FFP（遠場方向圖）測量設備是測量半導體激光器、光纖、光波導、光模塊等FFP（遠場方向圖）的設備。
光學系統(tǒng)采用我司的FFP測量光學系統(tǒng)M-Scope type F，結合我司的各種光電探測器和光束分析模塊AP013，可用于測量各種光學器件的FFP、輻射角分布、輸出NA。用于分析。
通過選擇光電探測器，可以構建從可見光范圍到1550nm近紅外波段的各種光通信系統(tǒng)。
使用FFP 測量光學系統(tǒng) M-Scope F 型
專用光學系統(tǒng)+圖像處理分析方法。易于調整，可在各個角度快速分析 FFP。
長工作距離設計，工作距離約6mm。
有兩種型號配備增透膜：一種適用于可見光范圍，另一種適用于近紅外范圍。
近紅外區(qū)域（650~1700nm波段增透膜產品）：M-Scope type F
可見光范圍（400~650nm波段增透膜產品）：M-Scope type F/BL
通過選擇光電探測器，可以進行從可見光范圍到近紅外范圍的測量。
400~1100nm：高精度CMOS探測器ISA071、ISA071GL等
950~1700nm：InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA041H2等
[新] 400~1700nm：InGaAs高分辨率近紅外探測器 ISA041HRA
光束分析模塊AP013，包括分析裝置、光束分析軟件、檢測器驅動器和校正數據。
多合一包裝允許安裝后立即使用。
Optimetrics BA Standard，專為光束輪廓測量而開發(fā)的光束測量和分析軟件
我公司自主研發(fā)的用于測量光束輪廓的圖像處理和分析軟件。還支持EF/EAF測量功能。
各種光器件、光模塊的FFP測量與分析
半導體激光器、光纖、光波導和光模塊的 FFP 分析
各種光學器件和光學元件的NA測量和分析
光纖、光布線波導、蝶形模塊等的NA分析。
多模光纖環(huán)向角通量分析
FFP 測量光學系統(tǒng) M-Scope type F 系列選型
650~1700nm：FFP測量光學系統(tǒng)M-Scope F型
400~650nm：用于藍色 M-Scope F/BL 型的 FFP 測量光學系統(tǒng)
紅外高分辨率 FFP 光學系統(tǒng) M-Scope 型 FHR
這是一款專用于1310~1550nm波段的紅外高分辨率FFP測量光學系統(tǒng)。
探測器
400~1100nm：高精度CMOS探測器ISA071、ISA071GL
950~1700nm：InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA041H2（紅外激光光束輪廓測量推薦型號）
400~1700nm：【新】InGaAs高分辨率近紅外探測器 ISA041HRA (SXGA)
僅 M-Scope 型 FHR：VGA 型 InGaAs 高靈敏度近紅外探測器 ISA041VH
光束分析模塊AP013
數據處理裝置主機、檢測器驅動器、光束測量分析軟件Optometrics BA Standard、校正數據
配件
附帶電纜、手冊等
ND濾鏡
可見光（400~700nm）：NDF-5
近紅外（700nm~1100nm）：NDF NIR-5
紅外（1310nm~1550nm）：NDF IR-5
光學系統(tǒng)安裝座
用于光纖測量的光學系統(tǒng)支架
垂直光學系統(tǒng)安裝架
廣域 FFP 測量裝置
這是一款FFP（遠場模式）測量裝置，覆蓋約3mmφ的光通量直徑，支持大發(fā)光面積樣品測量。
準直光測量裝置
這是一種高分辨率、實時觀察和測量光束窄發(fā)散角（準直光狀態(tài)）的裝置。
光束NFP測量裝置
這是采用圖像處理分析方法的高性能NFP（近場模式）測量裝置。
NFP/FFP同時測量裝置
這是一種使用同一外殼中的光學系統(tǒng)測量光束的 NFP 和 FFP 的裝置。
環(huán)向磁通/環(huán)向角磁通測量裝置
這是一種多模光纖環(huán)型通量/環(huán)型角通量分析裝置。
光束分析模塊AP013
高性能圖像處理系統(tǒng)，具有各種發(fā)光器件的光束測量、NFP/FFP/EF/EAF/4σ分析等豐富的發(fā)光參數分析功能。一套分析PC、光束分析軟件Optometrics BA、相機驅動程序和各種校正數據。
我們還擁有各種光學測量系統(tǒng)和光學測量設備，可用于各種其他目的和應用。
