圖像分析型粒度分布測量軟件Mac-View介紹

發(fā)布日期：2021-11-22      瀏覽次數(shù)：1263

圖像分析型粒度分布測量軟件Mac-View介紹

Mac-View Version.5 概述

結(jié)合各種識別工具，實(shí)現(xiàn)對所有粒子的測量和分析

通過讀取SEM或TEM拍攝的圖像并識別目標(biāo)顆粒，自動計算粒度分布并量化顆粒形狀。
通過使用手寫板的手動分析工具，可以輕松識別形狀復(fù)雜的顆粒和聚集的顆粒。

Mac-View Version.5 的新功能和改進(jìn)

-在粒子采集模式中增加了“針形"


?提高自動識別處理速度
?提高自動識別精度
?符合JIS8827-1（2018）




Mac-View Version.5 的特點(diǎn)

■ 凝聚粒子的一次粒徑分析

可以評價凝集粒子的初級粒徑，這在過去是困難的。

■ 納米粒子的評價

只要有尺度信息，無論顆粒大小如何，都可以進(jìn)行分析。

■ 多方面分析/評估

可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓度、縱橫比等）。另外，可利用的數(shù)據(jù)豐富，可以評價凝聚粒子的初級粒子。

■ 易于操作

不需要特別的知識，操作簡單，與作業(yè)人員的熟練程度無關(guān)。

■ 無需昂貴的資本投資

只要您準(zhǔn)備好圖像（jpeg、位圖），您就可以在 PC 上安裝軟件后立即使用它。

應(yīng)用實(shí)例

納米粒子、凝聚粒子、造粒體、燒結(jié)體截面、乳化粒徑等

支持軟件

■ 粉體分析綜合軟件Mac-PIAS

Mac-PIAS是一個全新維度的綜合粉體分析軟件，可以對任何方法測得的“粒度分布數(shù)據(jù)"進(jìn)行統(tǒng)一管理和分析。

■ 篩分試驗數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh

Macmesh 是一種工具，可以消除篩選測試中的人為錯誤，數(shù)據(jù)量大，工作效率高。




Mac-View Version.5 規(guī)格

測量功能	面積/周長/長軸/短軸/長度/小長度/海伍德直徑/周長圓當(dāng)量直徑/圓度系數(shù)/縱橫比/形狀系數(shù)1-3/費(fèi)雷特直徑/馬丁直徑/克魯姆貝因直徑/雙軸平均直徑，雙軸幾何平均直徑、雙軸協(xié)調(diào)平均直徑、長度等。
分析功能	粒度%·ON/PASS分析·體積/數(shù)量/長度轉(zhuǎn)換·峰數(shù)據(jù)分析·匯總數(shù)據(jù)分析·粒度分類轉(zhuǎn)換·篩選垂直轉(zhuǎn)換·形狀系數(shù)分析·數(shù)據(jù)合成·數(shù)據(jù)分組
其他功能	各種圖形顯示功能、各種打印輸出功能、文本輸出功能、圖像輸出功能等
操作環(huán)境	● PC/AT 兼容機(jī)運(yùn)行Microsoft Windows 7/8/10（兼容32/64 位） * 如果您使用的是Windows 7/8 ，請通過Windows Update 安裝的更新程序。 ● 用于許可證認(rèn)證的 USB 硬件 配備可用于密鑰的 USB 端口（必需） ● 連接掃描儀（TWAIN 兼容）和可選液晶數(shù)位板時，需要 USB 端口等接口 ● 顯示器: 顯示高達(dá)全高清分辨率 (1,920 x 1,080) ● CPU：根據(jù)操作系統(tǒng)要求的試用（CPU 1 GHz 或更高） ● 內(nèi)存：推薦 2GB 或更多 ● 至少需要 200MB 的可用空間在內(nèi)部硬件 ● 安裝 有時需要 CD-ROM 驅(qū)動器
對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)	基于 JIS Z 8827-1