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更新日期:2024-03-17
簡要描述:
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測量儀Napson 4探針測量系統(tǒng)使用了盒式磁帶(*為Jandel的原始類型)。我們還為其他公司的設備提供6針連接器類型和小模塊類型。
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測量儀
<探頭頭類型>
Napson 4探針測量系統(tǒng)使用了盒式磁帶(*為Jandel的原始類型)。我們還為其他公司的設備提供6針連接器類型和小模塊類型。
Napson的4探針法電阻/薄層電阻測量儀器使用由Jandel(UK)制造的高精度4探針探頭。
Jandel探頭z適合用于測量需要高精度的半導體和金屬薄膜的電阻和薄層電阻,并且已經經過了多年的高度評估。
*由于使用了V型彈簧,因此觸針壓力始終穩(wěn)定。
*上下均使用珠寶導板來固定探頭,因此具有出色的針間精度和穩(wěn)定性。
*軸和刀頭是一體的,因此對刀頭的損壞很小,并且具有出色的耐用性。
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測量儀
根據(jù)材料,表面條件和待測樣品的形狀選擇類型。
<推薦參考示例>
目標樣品 | 探頭 (材料/尖duan半徑) | 測針壓力/書本 |
硅錠塊 | TC-40u | 200克 |
硅片 | TC-40u | 200克 |
蝦結構層 | TC-150u | 100克 |
薄外延層 | TC-150u,500u | 50克 |
薄層如淺擴散 | OS-200u,500u | 50克 |
擴散層 | OS-200u,TC-150u | 100克 |
離子黑斑 | TC-150u | 50克,100克 |
金屬薄膜 | TC-150u,500u | 25g,50g,100g |
ITO膜 | TC-150u,500u | 25g,50g,100g |
*可以使用上述以外的樣品進行測量(導電)。
*也可以使用其他類型。
*也可根據(jù)要求提供特殊規(guī)格。
(關于產品編號)
<示例>TC-40μ-200g/ 1.00mm-針
材料:TC;碳化鎢(OS; alloy合金)-
針尖半徑:40μm(可能在25μm至500μm之間)-
針壓力(g /書):200克(可能10克至250克)-
針間距:1.00毫米(可能0.5毫米至1.59毫米)-針
排列:線性(標準)(可能是正方形)